GEO衛(wèi)星表面充電相對電位的工程分析

地球靜止軌道(GEO)衛(wèi)星在軌運行期間,沉浸于具有一定能量和密度的空間等離子體之中,等離子體與衛(wèi)星表面材料相互作用,將使衛(wèi)星出現"表面充/放電效應",進而對星上電子系統(tǒng)產生影響,甚至發(fā)生電路故障,直接威脅整星安全.為防止GEO衛(wèi)星在軌期間因等離子體造成的表面充放電導致衛(wèi)星異常和故障,在GEO衛(wèi)星的設計中,必須進行衛(wèi)星表面電位分析、控制和試驗驗證等工作.文章根據衛(wèi)星表面材料的基本參數和接地狀態(tài),采用工程分析方法對衛(wèi)星表面充電電位進行分析,滿足衛(wèi)星工程設計急需.

作 者： 盛麗艷 蔡震波 SHENG Liyan CAI Zhenbo   作者單位： 北京空間飛行器總體設計部,北京,100094  刊 名： 航天器工程  ISTIC 英文刊名： SPACECRAFT ENGINEERING  年，卷(期)： 2007 16(6)  分類號： V41  關鍵詞： GEO   表面充電   分析  

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