基于田口質量損失函數(shù)的控制圖優(yōu)化設計

由于在生產實際中存在大量非正態(tài)過程,傳統(tǒng)控制圖將失去其有效性.針對實際生產過程中質量特性不服從正態(tài)分布的情況,以Burr分布作為非正態(tài)數(shù)據(jù)的近似分布,結合均值隨機漂移和田口質量損失函數(shù),給出(X)圖的經(jīng)濟統(tǒng)計最優(yōu)設計方法;根據(jù)過程輸出數(shù)據(jù),提出最優(yōu)樣本容量及控制限的選擇.數(shù)值計算的結果顯示該方法可靠;通過靈敏度分析,研究了各參數(shù)對最優(yōu)設計的影響.

作 者： 張斌 韓之俊 陳湘來 ZHANG Bin HAN Zhi-jun CHEN Xiang-lai   作者單位： 張斌,ZHANG Bin(南京理工大學,經(jīng)濟管理學院,江蘇,南京,210096;南京信息工程大學,統(tǒng)計學系,江蘇,南京,210044)

韓之俊,陳湘來,HAN Zhi-jun,CHEN Xiang-lai(南京理工大學,經(jīng)濟管理學院,江蘇,南京,210096) 

刊 名： 工業(yè)工程  ISTIC PKU 英文刊名： INDUSTRIAL ENGINEERING JOURNAL  年，卷(期)： 2007 10(6)  分類號： O213.1  關鍵詞： Burr分布   田口質量損失函數(shù)   控制圖  

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