SiH自由基分子基態(tài)解析勢能函數的準確擬合

使用原子分子反應靜力學的有關理論,導出了SiH分子自由基X2Π態(tài)的合理離解極限.利用耦合簇方法QCISD(T)和一個較大的基組cc-PVQZ,對X2Π態(tài)進行了幾何優(yōu)化和頻率計算,并在0.10～1.71 nm的核間距范圍內計算了這一自由基X2Π態(tài)的勢能曲線.其中,幾何優(yōu)化得到的平衡核間距和諧振頻率分別為0.152 37 nm和2 047.522 4 cm-1,單點能掃描得到的離解能為3.161 2 eV,都與實驗值相符得很好.利用4到7參數的Murrell-Sorbie函數對單點能掃描獲得的勢能曲線進行了擬合,并對擬合得到的解析勢能函數進行了詳盡的分析,結果表明只有6參數的Murrell-Sorbie函數才能給出較準確的擬合結果.

作 者： 王棟臣 王林 戴啟潤 施德恒 WANG Dong-chen WANG Lin DAI Qi-run SHI De-heng   作者單位： 信陽師范學院,物理電子工程學院,河南,信陽,464000  刊 名： 信陽師范學院學報（自然科學版）  ISTIC PKU 英文刊名： JOURNAL OF XINYANG NORMAL UNIVERSITY(NATURAL SCIENCE EDITION)  年，卷(期)： 2008 21(3)  分類號： O561.1  關鍵詞： SiH自由基   Murrell-Sorbie函數   從頭算   平衡幾何  

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